机译:扫描电子显微镜和俄歇电子能谱法测定几层六方氮化硼薄膜的厚度
机译:俄歇光电子重合谱研究Si(111)上的局部价电子态和超薄氮化硅膜的价带最大值:厚度和界面结构依赖性
机译:使用扫描电子和扫描氦离子显微镜表征二维六方氮化硼
机译:通过扫描俄歇电子能谱法评估附着在Si衬底上的机械剥离云母纳米片的厚度
机译:通过机械,电子和化学相互作用控制薄膜形态:扫描隧道显微镜和光电子能谱研究。
机译:太赫兹时域光谱法测量不同衬底上单层六方氮化硼的光电性能
机译:在六方氮化硼上扫描隧道显微镜和超平石墨烯的光谱